全新原装西门子14792-45机架控制面板编码器

操作员站处理机：（工程师站或操作员站）
处理机（WP51）既可作为操作员站使用也可作为工程师站使用
*过程操作员通过WP可以调用过程显示画面，观察过程回路的参数、趋势和报警，实现对过程的操作和参数的调整；
*过程工程师 通过WP可以组态过程显示画面和过程控制数据库，进行其他各种组态工作；软件工程师通过WP可以进入软件开发环境，编写、调试和执行用户的应用程序；
*系统维护人员通过WP可以观察到系统各个设备的工作状态，对这些设备进行诊断操作；
*工厂管理人员通过WP可以运行生产管理方面的软件。
*组合键盘 (操作员键盘)
每个操作台可Zui多带二个组合键盘, 每个组合键盘Zui多可装三块告示小键板,二个组合键盘Zui多只能有一个数字小键板。
告示小键板 -- 它具有用户可自定义的插片(插片上可标该键的功能)和供全部16个键用的发光二极管(LED)。这是一个16个 LED 键开关的阵列,每个LED 可在操作站处理机软件的控制下,按过程的状态呈现ON(闪亮),OFF(熄灭),或者闪烁发光。这些 LED 与基本单元上的音响告示器连用,可产生提醒操作员把注意力转向系统的某些特殊区域上去的效果。与每一 LED 相关的聚酯薄膜键开关可被用于请求预先组态好的画面或者专门的系统功能。
数字小键板 -- 它适于将数字数据输入系统,其功能与字母数字键盘上的数字输入小键盘(带光标控制)相同,它包括若干数字输入键, 一个 ENTER (键入)键和一个带 LED 状态灯的数字 LOCK (闭锁)键。
*操作员处理机WP51F主要性能指标
CPU： Ultra SPARC IIi 64位字长 RISC技术 650MHZ主频
内存： 512MB（可扩展至2GB） 硬盘容量：80GB（可扩展至320GB）
CRT尺寸：21”（支持双CRT） 分辨率： 1600*1280

全新原装西门子14792-45机架控制面板编码器

半导体硅片作为半导体产业链的基础材料，生产工艺流程复杂，易产生裂片、桔皮、晶孔等多种复杂缺陷。目前多数硅片工厂依赖人工目检进行缺陷检测，但随着产能提升与工艺要求升级，人工检测的弊端日益凸显：

●标准不一，效率低下：人工判定标准不统一，导致检测效率低下，难以匹配高产能需求；

●人力依赖，成本高昂：质检人员流动性大，培训周期长达3-6个月，人力成本居高不下；

●精度不足，良率受限：人眼可识别缺陷约5μm，无法满足0.3μm级的高精度工艺要求；

●数据缺失，难以追溯：无系统化缺陷记录，历史数据无法追溯，难以支撑质量分析；

●缺陷繁多，根因难定：缺陷种类多（超20种常见类型），人工统计难以量化数据，无法缺陷根因；

●实时监控难：缺乏实时数据反馈，无法及时锁定工艺异常，易导致批量质量问题。

01 高精度外观缺陷检测

●采用高分辨率机器视觉系统，实现0.3μm级检测精度，并抓取表面缺陷；

●独创光学系统设计（多光源组合+偏振光调节），大幅提升滑移线、桔皮、烧结等疑难缺陷的检出率（较传统设备提升30% 以上）；

●支持缺陷自动分类（覆盖20+常见类型），分类准确率达 95% 以上。

02 全流程数据统计与分析

●实时统计缺陷分类占比、位置分布，生成可视化报告，快速工艺改善方向；

●批量分析缺陷变化趋势，追溯缺陷产生的设备/工艺环节，实时监控设备性能波动；

●结合生产数据进行缺陷根因分析，为工艺优化（如抛光参数调整、清洗流程改进）提供数据支撑。

03 自适应缺陷识别能力

●通过自适应成像配置（亮度/焦距自动调节）及多模式成像（明场/暗场/荧光），适配不同规格硅片（4-12英寸）；

●搭载无监督迁移学习AI算法，无需人工标注即可自动识别新型缺陷，缩短新缺陷检测响应时间（从传统的2周缩短至1天）；

●联动设备控制系统，当缺陷率超过阈值时自动报警，锁定工艺异常。